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从工艺学习到生产控制:先进封装趋势及其对表征与测试的影响

这篇材料介绍了一种集成方法,用于加快先进封装技术的工艺开发并维持量产控制。原文仅包含简短导语,指出从2.5D中介层、CoWoS到混合键合和3D堆叠的异构集成快速发展,正在重新定义“工艺爬坡”的含义,而行业尚缺乏专门面向这些新挑战……